方形通孔的设计可以容纳更大对角线尺寸的元件，并且对于光刻掩模版、大尺寸平面反射镜等非圆形光学元件，P77B.S285的方形通孔可做到全区域通光无遮挡，实现元件全表面的完整检测，大幅提升通光利用率与检测效率。

在光学检测领域，方形镜片、方形棱镜等应用日益广泛，方形通孔能够更好地贴合实际需求，并且适配标准化工业场景，在半导体、平板显示等工业检测场景多为标准化的方形、矩形尺寸，P77B.S285可直接与标准化元件适配，无需额外转接工装，完美适配工业在线检测的高效化需求。

P77B.S285最大行程可达20μm，为光学移相检测场景深度优化，完全覆盖相移干涉、白光扫描干涉等主流检测方案的行程需求。同时保证极致的性能表现：

(1)纳米级定位精度，完美适配超精密检测

配备高精度位移传感器和全闭环控制算法，位移分辨率可达纳米级别，满足高端光学元件的纳米级检测需求。

(2)无回差，重复定位性能优异

采用一体化加工的柔性铰链导向机构，无机械摩擦、无传动间隙，重复定位精度可达纳米级，可有效避免误差对相位测量的干扰，保证长期连续检测的结果一致性。

(3)快速响应与高稳定性，提升检测效率

响应时间达毫秒级，可在短时间内稳定达到目标位移，实现高速连续移相，大幅提升光学检测的采样效率，既适合实验室精密计量，也适配工业产线的在线高速检测。

P77B.S285延续了P77系列大负载的核心设计优势，额定承载能力可达10kg，完全满足大口径光学镜片、镜头组件、大尺寸参考镜的负载需求。产品采用高刚性一体化结构设计，轴向刚度优异，长期连续工作无精度衰减，使用寿命长，免维护，完美适配工业在线检测的长期连续运行需求。

同时，可根据客户的设备应用需求，对行程、承载、通孔尺寸、外形结构、真空适配等进行量身定制，全方位满足不同场景的个性化需求。